[发明专利]一种刻蚀有机物层的等离子刻蚀方法有效

专利信息
申请号: 201010166393.5 申请日: 2010-04-29
公开(公告)号: CN101866848A 公开(公告)日: 2010-10-20
发明(设计)人: 高山星一;陶铮;倪图强 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)有限公司
主分类号: H01L21/311 分类号: H01L21/311
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 王洁
地址: 201201 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种刻蚀有机物层的等离子刻蚀方法,为解决刻蚀有机物层时基片的中心区域和边缘区域刻蚀效果不均一的问题。本发明的刻蚀方法提出了利用气体分布装置在对应基片中心区域供应刻蚀气体,在对应基片边缘区域供应侧壁保护气体。其中刻蚀气体和侧壁保护气体在进入反应腔内基片上方的反应区域前互相隔离。当刻蚀气体和侧壁保护气体从气体分布装置通入反应腔后逐渐扩散混合,最后在基片表面得到刻蚀气体与侧壁保护气体具有不同混合比的反应气体。该不同混合比使得基片的中心区域和边缘区域能够抵消其它因素造成的刻蚀效果差别,最终实现中心区域和边缘区域具有均一的刻蚀效果。
搜索关键词: 一种 刻蚀 有机物 等离子 方法
【主权项】:
一种刻蚀有机物层的等离子刻蚀方法,包括以下步骤:放置待处理基片到一等离子反应腔的基座上,其中所述基片上包括待刻蚀的有机物层,该有机物层上方有图形化的掩膜层;通过一供气装置向所述等离子反应腔内与所述基片中心区域对应的第一反应区域供应一含氧刻蚀气体,并通过所述供气装置向所述等离子反应腔内与所述基片边缘区域对应的第二反应区域供应一侧壁保护气体,所述含氧刻蚀气体与侧壁保护气体在通入反应腔后扩散混合并在所述第一反应区域和第二反应区域分别形成不同混合比的反应气体,从而沿所述掩膜层上的图形刻蚀有机物层直到达到目标深度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中微半导体设备(上海)有限公司,未经中微半导体设备(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010166393.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top