[发明专利]一种继电器触点上的电压降的间接测试方法无效
| 申请号： | 201010168292.1 | 申请日： | 2010-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN102193017A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 吴玉田;张平;禹卫东 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R31/327 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电源控制中继电器触点上的电压降间接测试方法，涉及继电器测试技术，可以从设备外部进行测试，不需要打开机箱，不接触内部电路，没有安全性隐患，只需在设备外部做一个简单测试电路，通过连接器与设备连接就可以测试了。本发明的电源控制中继电器触点上的电压降间接测试方法，测试结果准确可信，测试过程安全、方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 继电器 触点 电压 间接 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种电源控制中继电器触点上的电压降间接测试方法，其特征在于，包括步骤：A)在设备外部设置一测试电路；B)测试出从28V正输入端到负载正端的电压降UP；C)测试出负载负端到28V输入负端的电压降UN；D)将B)步、C)步所得结果相减：UP‑UN得继电器触点上的电压降UC。
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