[发明专利]一种放射性气体核素活度绝对测量方法及装置无效
申请号: | 201010168740.8 | 申请日: | 2010-05-11 |
公开(公告)号: | CN101806910A | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | 李谋;代义华;白涛;刘杰;师全林;钟振原 | 申请(专利权)人: | 西北核技术研究所 |
主分类号: | G01T1/18 | 分类号: | G01T1/18 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王少文 |
地址: | 710024 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及一种放射性气体核素活度绝对测量方法及装置,其包括以下步骤:1]建立气体核素符合测量装置:2]样品制备:3]装置调试:4]装置性能参数测定,5]测量气体放射性体源,并计算比活度,本发明解决了现有长度补偿法对某些高能β射线气体核素活度绝对测量比活度可能偏低的技术问题,本发明提供了一种气体核素活度绝对测量的新方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 放射性 气体 核素 绝对 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
一种放射性气体核素活度绝对测量方法,其特征在于:其包括以下步骤:1]建立气体核素符合测量装置:将内充气β射线探测器置于γ射线探测器内(中心部位),并与符合仪11分别连接;2]样品制备:将气体核素样品和工作气体在混气装置中混合均匀后,充入内充气β射线探测器内,使混合气体压力保持在1.5~2.0个大气压;3]装置调试:采用示波器观察各道信号是否正常和下阈设置是否合理,下阈设置确保不让噪声进入测量道;4]装置性能参数测定:对装置进行坪曲线测量、本底测量和符合分辨时间测量;5]测量气体放射性体源,并计算比活度:5.1]β道和γ道计数率的本底扣除:采用下列公式扣除测量的β道和γ道计数率的本底:Nβ=N′β-NβbNγ=N′γ-Nγb式中:Nβ、Nγ分别表示扣除本底计数率后β道和γ道的计数率;N`β、N`γ分别表示气体核素测量时测量的β道和γ道计数率;Nβb、Nγb分别表示装置性能参数测定时测量的β道和γ道的本底计数率;5.2]符合道计数率的本底及偶然符合的扣除:采用下列校正公式对符合道计数率进行本底和偶然符合的扣除:Nc=N′c-Ncb-2·τ·N′β·N′γ式中:Nc表示扣除本底和偶然符合后的符合道计数率;N`c表示气体核素测量时测量的符合道计数率;Ncb表示装置性能参数测定时测量符合道的本底计数率;τ表示装置性能参数测定时测量的符合分辨时间;N`β、N`γ分别表示气体核素测量时测量的β道和γ道计数率;5.3]活度计算:采用下列公式计算一次符合测量时气体计数管内气体核素的活度: A = N β · N γ N c 式中:A表示计数管内气体核素的活度;Nβ、Nγ分别表示扣除本底计数率后β道和γ道的计数率;Nc表示扣除本底和偶然符合后的符合道计数率;5.4]比活度计算:采用下列公式计算气体计数管内气体核素的比活度可以: A v = A V 式中:Av表示计数管内气体核素的比活度;A表示计数管内气体核素的活度;V表示计数管的体积。
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