[发明专利]硅基三维结构磁场辅助电化学腐蚀的方法有效
申请号: | 201010170397.0 | 申请日: | 2010-05-07 |
公开(公告)号: | CN101866842A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | 周建;刘桂珍;王琳 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | H01L21/3063 | 分类号: | H01L21/3063;H01L21/66 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 王守仁 |
地址: | 430071 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明是一种硅基三维结构磁场辅助电化学腐蚀的方法,该方法包括光刻硅片、配置腐蚀液、电化学腐蚀前的准备、电化学腐蚀的实施及后处理步骤,其中:在配置腐蚀液的过程中,是将氢氟酸、二甲基甲酰胺和水混合,组成三者的体积比为(2.5~3.5)∶(14~18)∶1的腐蚀液作为负极腐蚀液,将质量浓度96%的分析纯NH4F、质量浓度40%的HF和水混合,组成三者的体积比为3∶6∶10的氢氟酸缓冲腐蚀液作为正极的腐蚀液;在磁场配置过程中,是将磁场方向垂直100晶向,同时与电场方向垂直,该磁场方向定为x轴。本发明提供的方法具有工艺简单、实用性强和容易实施等优点,可以获得大间距陡直图形的硅基三维结构的产品。 | ||
搜索关键词: | 三维 结构 磁场 辅助 电化学 腐蚀 方法 | ||
【主权项】:
一种硅基三维结构磁场辅助电化学腐蚀的方法,其特征是该方法的步骤包括:(1)光刻硅片:利用光刻机和图形掩模将硅片进行光刻;(2)配置腐蚀液:将HF、DMF和水的混合,组成三者的体积比为(2.5~3.5)∶(14~18)∶1的腐蚀液作为负极腐蚀液,其中,HF为质量浓度40%的氢氟酸,DMF为质量浓度99.5%的二甲基甲酰胺;将质量浓度96%的分析纯NH4F、质量浓度40%的HF和水混合,组成三者的体积比为3∶6∶10的氢氟酸缓冲腐蚀液作为正极腐蚀液;(3)电化学腐蚀前的准备:将双槽腐蚀设备置于通风橱内,再将配置好的腐蚀液分别加入两侧腐蚀槽中,连接好电极,磁场配置:将磁场方向垂直100晶向,同时与电场方向垂直;该磁场方向定为x轴,将光刻好的硅片装入所述腐蚀槽中;(4)电化学腐蚀的实施:按照工艺要求,在腐蚀液、0.01~0.08A电流及磁场的协同作用下对光刻好的硅片进行电化学腐蚀;(5)后处理:电化学腐蚀结束后将硅片取下用去离子水冲洗干净,然后进行烘干;经过上述步骤,得到硅基三维结构的产品。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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