[发明专利]用于流量计的校验诊断的仪表电子器件和方法有效

专利信息
申请号: 201010173756.8 申请日: 2005-09-19
公开(公告)号: CN101819056A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: M·J·伦兴;A·T·佩藤;T·J·坎宁安;M·J·贝尔 申请(专利权)人: 微动公司
主分类号: G01F25/00 分类号: G01F25/00;G01M19/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王小衡;王忠忠
地址: 美国科*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 用于流量计的校验诊断的仪表电子器件和方法。依据本发明的实施例提供用于流量计(5)的仪表电子器件(20)。该仪表电子器件(20)包括用于接收来自流量计(5)的振动响应的接口(201)和与接口(201)通信的处理系统(203),该振动响应是在基本谐振频率处对流量计(5)的振动的响应。该处理系统(203)被布置成接收来自接口(201)的振动响应,确定振动响应的频率(ω0),确定振动响应的响应电压(V)和驱动电流(I),测量流量计(5)的衰减特性(ζ),并从频率(ω0),响应电压(V),驱动电流(I)和衰减特性(ζ)确定刚度参数(K)。
搜索关键词: 用于 流量计 校验 诊断 仪表 电子器件 方法
【主权项】:
用于流量计(5)的仪表电子器件(20),该仪表电子器件(20)包括用于接收来自流量计(5)的三个或更多个振动响应的接口(201),该三个或更多个振动响应包括基本基频响应和两个或更多个非基频响应;以及与接口(201)通信的处理系统(203),该仪表电子器件(20)进一步包括:处理系统(203)被布置成接收来自接口(201)的该三个或更多个振动响应,从该三个或更多个振动响应产生极点-残数频率响应函数,并从极点-残数频率响应函数确定至少一个刚度参数(K)。
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