[发明专利]LCD检查用驱动芯片接触式探针组件无效
| 申请号： | 201010173809.6 | 申请日： | 2010-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN102253250A | 公开（公告）日： | 2011-11-23 |
| 发明（设计）人： | 安玧泰 | 申请（专利权）人： | 卢肯技术株式会社 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G09G3/00 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 楼高潮 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及LCD检查用驱动芯片接触式探针组件。本发明具有Tension的Tension Plat，前端是突出的Tension Plate(300)绕着附着Tap IC(500)的接触Pattern(510)能可视确认，Panel(900)与接触Pattern(910)1∶1比率对应，接触的时候更容易接触。Tension Plate(300)调整Tension引出提高LCD检验特性的效率。 | ||
| 搜索关键词： | lcd 检查 驱动 芯片 接触 探针 组件 | ||
【主权项】：
一种驱动芯片接触式探针组件，其特征在于：在Block Body(100)下部结合固定Angle Plate(200)，在Angle Plate(200)下部附着薄的Tension Plat(300)，引出Probe Block前端突出Angle Plate(200)，Angle Plate(200)与Block Body(100)下部结合Block Body Support (400)，在Block Body Support(400)下部与Tension Plat(300)下部附着TAP IC(500)，TAP IC(500)前边后端绕着附着固定突出的Tension Plat(300)，TAP IC(500)下部后端附着FPC(700)固定，为了防止TAP IC(500)分离，TAP IC Cover(600)结合Angle Plate(200)固定，Block Body(100)与Block Body Support(400)下部结合Cover(800)固定。
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