[发明专利]用于制造薄膜光伏系统的方法以及薄膜光伏系统无效

专利信息
申请号: 201010174104.6 申请日: 2010-02-05
公开(公告)号: CN101834231A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: D·奥斯特曼 申请(专利权)人: 齐伦投资专利II两合公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/048;H01L31/0264
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 过晓东
地址: 德国舍*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明描述了一种用于制造薄膜光伏系统(2)的方法,该系统具有作为阳光吸收体的平面金属硫族化合物半导体层(7)以及施加在所述金属硫族化合物半导体层上的金属层(8),其中所述金属硫族化合物半导体层(7)和所述金属层(8)在其接触面上形成肖特基触点。所述技术方案的特征在于,通过将含有直径为约3nm至约30nm的纳米级颗粒的分散体施加到透明基材(12)上而制成所述金属硫族化合物半导体层(7),其中施加到基材上的所述金属硫族化合物半导体层(7)的层厚度为约150nm至约2500nm。
搜索关键词: 用于 制造 薄膜 系统 方法 以及
【主权项】:
用于制造薄膜光伏系统(2)的方法,该系统具有作为阳光吸收体的平面金属硫族化合物半导体层(7)以及施加在所述金属硫族化合物半导体层上的金属层(8),其中所述金属硫族化合物半导体层(7)和所述金属层(8)在其接触面上形成肖特基触点,其特征在于,所述金属硫族化合物半导体层(7)是通过将含有直径为约3nm至约30nm的纳米级颗粒的分散体施加到透明基材(12)上而制成的,其中施加到基材上的所述金属硫族化合物半导体层(7)的层厚度为约150nm至约2500nm。
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