[发明专利]成膜方法以及等离子体成膜装置无效
申请号: | 201010174521.0 | 申请日: | 2010-05-10 |
公开(公告)号: | CN101880869A | 公开(公告)日: | 2010-11-10 |
发明(设计)人: | 山崎英亮;小堆正人;布重裕 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/513 | 分类号: | C23C16/513;H01L21/3205 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李伟;舒艳君 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供成膜方法以及等离子体成膜装置。利用该成膜方法,即使形成在被处理体的表面的凹部的内径、宽度小,也能够提高薄膜成膜时的阶梯覆盖。在向可被抽真空的处理容器(22)内收容具有凹部(6)的绝缘层(4)被形成在表面的被处理体(W),并且向处理容器内供给包含钛的原料气体和还原气体,利用等离子体CVD法使气体反应而在被处理体上形成包含钛的薄膜的成膜方法中,以使反应为原料气体的反应决速的反应状态的方式设定原料气体和还原气体各自的流量。由此,即使形成在被处理体表面的凹部的内径和宽度变小、或者凹部的纵宽比变大,也能够提高薄膜成膜时的阶梯覆盖。 | ||
搜索关键词: | 方法 以及 等离子体 装置 | ||
【主权项】:
一种成膜方法,向可被抽真空的处理容器内收容具有凹部的绝缘层被形成在表面的被处理体,并且向上述处理容器内供给包含钛的原料气体和还原气体,利用等离子体CVD法使上述气体反应而在上述被处理体上形成包含钛的薄膜,其特征在于,以上述反应成为上述原料气体的反应决速的反应状态的方式设定上述原料气体和上述还原气体各自的流量。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的