[发明专利]通过光偏转对激光冲击强化进行质量评估的装置和方法无效

专利信息
申请号: 201010176102.0 申请日: 2010-05-18
公开(公告)号: CN101852718A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 张永康;王飞;姚红兵;孟春梅;程丽娟;鲁金忠;张朝阳 申请(专利权)人: 江苏大学
主分类号: G01N21/00 分类号: G01N21/00
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 汪旭东
地址: 212013 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及机械激光冲击强化评估技术领域,公开了通过光偏转对激光冲击强化进行质量评估的装置和方法。本发明包括激光器(10)、五轴工作台(11)、约束层(12)、吸收层(13)、工件(14)、示波器(20)、分光镜(21)、光电二极管A(22)、光电二极管B(23)和探测激光器(24)。本发明提供了一种无损、可重复使用、不受工件材料及厚度影响、结构简单、方便快捷、稳定可靠的在线质量评估装置和方法。
搜索关键词: 通过 偏转 激光 冲击 强化 进行 质量 评估 装置 方法
【主权项】:
通过光偏转对激光冲击强化进行质量评估的装置,其特征是,包括激光器(10)、五轴工作台(11)、约束层(12)、吸收层(13)、工件(14)、示波器(20)、分光镜(21)、光电二极管A(22)、光电二极管B(23)和探测激光器(24);在激光器(10)输出光路上放置所述分光镜(21),所述分光镜(21)于激光器(10)输出光路的夹角为(45)度;在所述分光镜(21)反射的触发光路上放置光电二极管(22),所述光电二极管(22)和分光镜(21)的连线与激光器(10)输出光路垂直,所述分光镜(21)和工件(14)的距离与所述分光镜(21)和光电二极管A(22)的距离相等,所述光电二极管(22)通过信号线连接到示波器(20);在激光器(10)输出光路的一侧放置探测激光器(24),所述探测激光器(24)输出的探测激光束和激光器(10)输出光路在同一平面内且相互垂直;在所述探测激光器(24)相对激光器(10)输出光路对称的位置上放置光电二极管B(23),所述探测激光器(24)和激光器(10)输出光路的距离与所述光电二极管B(23)和激光器(10)输出光路的距离相等,所述光电二极管B(23)通过信号线连接到示波器(20)。
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