[发明专利]表面具有超疏水性纳米硅线阵列的单晶硅片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201010177182.1 申请日: 2010-05-19
公开(公告)号: CN101845661A 公开(公告)日: 2010-09-29
发明(设计)人: 汪鹏飞;周延彪;刘卫敏;张文军 申请(专利权)人: 中国科学院理化技术研究所
主分类号: C25F3/12 分类号: C25F3/12;C23C14/35;C23C14/16;B82B1/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种表面具有超疏水性纳米硅线阵列的单晶硅片及其硅线制备方法。该单晶硅片由作为基底的单晶硅片和位于所述单晶硅片表面的纳米硅线阵列组成。本发明以导电单晶硅片为前体,以磁控离子溅射仪溅射在硅片表面的金纳米颗粒为催化剂,通过电解法制备出预设面积的纳米硅线阵列。该方法可通过对金纳米颗粒薄膜层的厚度和电解时间的调节,获得不同直径和长度范围的纳米硅线阵列。该纳米硅线阵列具有分级的纳米和微米粗糙表面,该表面表现出良好的超疏水性,即对水的接触角大于150°,滚动角小于10°,污水溅到表面会自动滚落,不留任何痕迹,可提升半导体的物化性质并扩展其半导体器件应用。
搜索关键词: 表面 具有 疏水 纳米 阵列 单晶硅 及其 制备 方法
【主权项】:
一种表面具有纳米硅线阵列的单晶硅片,由作为基底的单晶硅片和位于所述单晶硅片表面的纳米硅线阵列组成。
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