[发明专利]一种物料停留时间分布测试装置

摘要

本发明公开了一种物料停留时间分布测试装置，包括通光管、光学窗口、荧光探测器、信号处理单元、激发光源、半透半反镜和光源供电单元等，激发光源发射的光束经半透半反镜入射到被测物料上，被测物料中的示踪剂受到激发后发射荧光，所述荧光经半透半反镜后传输到荧光探测器，通过信号处理单元分析，计算出物料停留时间分布。激发光束和荧光在出射过程中不需与光纤耦合，可以大幅度降低耦合损耗和成本，而且光路布置紧凑，测试装置体积较小。物料停留时间分布测试装置只与信号处理单元以及光源供电单元电连接，使用极为方便，且可以方便隔离被测物料的高温高压环境。

主权项

一种物料停留时间分布测试装置，包括通光管(2)、光学窗口(5)、荧光探测器(6)、信号处理单元(7)，其特征在于，所述装置还包括激发光源(1)、半透半反镜(3)和光源供电单元(8)，激发光源(1)发射的光束经过半透半反镜(3)入射到位于光学窗口(5)的被测物料上，被测物料中的示踪剂受到激发后发射荧光，所述荧光经过半透半反镜(3)后传输到荧光探测器(6)；激发光源(1)和光源供电单元(8)电连接，荧光探测器(6)和信号处理单元(7)电连接。