[发明专利]一种应用掩膜保护进行激光快速加热方法有效
申请号: | 201010179894.7 | 申请日: | 2010-05-24 |
公开(公告)号: | CN101866839A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | 花国然;王强;张华;宋长青;张振娟 | 申请(专利权)人: | 南通大学 |
主分类号: | H01L21/268 | 分类号: | H01L21/268;H01L21/318 |
代理公司: | 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 | 代理人: | 吴静安 |
地址: | 226019 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种应用掩膜保护进行激光快速加热方法。首先将多晶硅衬底的硅片置于PECVD沉积装置完成非晶硅薄膜淀积;然后进行氮化硅薄膜的淀积,形成氮化硅薄膜的掩膜;将含有所述掩膜的非晶硅薄膜置于具有惰性气体的保护性性容器中,用波长为1.00~1.10微米的脉冲激光,通过调整光斑尺寸,使之产生正离焦量方向的一个1×1cm2的光斑,用以对所述薄膜加热进行结晶退火,在保持输出功率不变的情况下,通过调节脉冲频率,达到薄膜外延生长的晶粒尺寸要求,再用氢氟酸水溶液去除氮化硅保护层。本发明使薄膜外延晶粒可控,且通过淀积形成掩膜防薄膜氧化,并通过对激光的增透能力提高激光在衬底中的能量利用率,以降低激光的耗能,提高了薄膜的质量,优化了激光洁净工艺。 | ||
搜索关键词: | 一种 应用 保护 进行 激光 快速 加热 方法 | ||
【主权项】:
一种应用掩膜保护进行激光快速加热方法,其特征在于包括如下步骤:1)将多晶硅衬底的硅片置于PECVD沉积系统中,通入SiH4和H2的混合气体进行非晶硅薄膜淀积,淀积气压为5Pa,衬底淀积温度为250℃,淀积功率为400W,淀积时间为60min,完成非晶硅薄膜淀积;2)在非晶硅薄膜淀积完成后,通入NH3和SiH4的混合气体进行氮化硅薄膜的淀积,淀积气压为5Pa,衬底淀积温度为250℃,淀积功率为400W,淀积时间为60min,形成氮化硅薄膜构成的掩膜;3)将含有所述掩膜的非晶硅薄膜置于具有惰性气体的保护性性容器中,然后用波长为1.6微米的脉冲激光,通过调整光斑尺寸,使之产生正离焦量方向的一个1×1cm2的光斑,用以对所述薄膜进行结晶退火,保持输出功率和脉宽不变,通过调节脉冲频率,达到所述薄膜外延生长的晶粒尺寸要求。4)用5%体积比浓度的氢氟酸水溶液,去除所述氮化硅保护层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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