[发明专利]触控位置扫描方法无效

专利信息
申请号: 201010180245.9 申请日: 2010-05-17
公开(公告)号: CN102253759A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 陈威州;许琼文 申请(专利权)人: 太瀚科技股份有限公司
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾新竹科学工业园*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是有关于一种触控位置扫描方法,包括:提供一具有至少一光发射模块及至少一光感测模块的触控输入装置;以光发射模块执行光感测模块曝光;扫描光感测模块的光感测元件;决定具有光感应信号最大值的光感测元件;依光感应信号最大值计算光感测元件部份扫描范围;以光发射模块执行光感测模块曝光;扫描并读取部份光感测元件扫描范围内的光感测元件的感测值;决定部份光感测元件扫描范围内具有光感应信号最大值的光感测元件,并计算新的光感测元件部份扫描范围;执行光感应信号强度计算;及决定光感应信号强度是否高于一预设值。此方法利用区域扫描取代非必要的全区域扫描以加快扫描方式,以有效利用元件提高效率及反应速度。
搜索关键词: 位置 扫描 方法
【主权项】:
一种触控位置扫描方法,该方法包括以下步骤:(a)提供一触控输入装置的步骤,所述触控输入装置具有至少一光发射模块及至少一光感测模块,所述光感测模块具有多个光感测元件;(b)以所述光发射模块执行所述光感测模块曝光的步骤;(c)扫描所述光感测模块的光感测元件的步骤;(d)决定具有光感应信号最大值的所述光感测元件的步骤;(e)依所述光感应信号最大值计算所述光感测元件部份扫描范围的步骤;(f)以所述光发射模块执行所述光感测模块曝光的步骤;(g)扫描并读取所述部份光感测元件扫描范围内的所述光感测元件的感测值的步骤;(h)决定部份所述光感测元件扫描范围内具有光感应信号最大值的所述光感测元件,并计算新的光感测元件部份扫描范围的步骤;(i)执行所述光感应信号强度计算的步骤;及(j)决定所述光感应信号强度是否高于一预设值的步骤。
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