[发明专利]压印痕宽度检测装置及方法有效
| 申请号： | 201010181472.3 | 申请日： | 2010-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN102252615A | 公开（公告）日： | 2011-11-23 |
| 发明（设计）人： | 宋勇志;鲁姣明;王煦;罗会月 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100176 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种压印痕宽度检测装置及方法，涉及液晶技术领域，解决了现有技术中压印痕宽度测量准确率低、效率低的问题，本发明所述压印痕宽度检测装置，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。本发明主要应用于液晶面板的制作。 | ||
| 搜索关键词： | 压印 宽度 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种压印痕宽度检测装置，其特征在于，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。
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