[发明专利]一种耐腐蚀抗静电的硅薄膜的制备方法无效
申请号: | 201010182394.9 | 申请日: | 2010-05-25 |
公开(公告)号: | CN101824593A | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
发明(设计)人: | 季振国;席俊华;毛启楠;柯伟青 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | C23C14/14 | 分类号: | C23C14/14;C23C14/28 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 周烽 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种耐腐蚀抗静电的硅薄膜的制备方法,硅薄膜通过激光脉冲沉积法制作,所用的靶材为硅材料。本方法制作工艺简单,沉积时工件不需加热,所用材料及工艺对环境没有污染,硅薄膜同时兼具耐腐蚀和抗静电两种功能,性能十分稳定。 | ||
搜索关键词: | 一种 腐蚀 抗静电 薄膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种耐腐蚀抗静电的硅薄膜的制备方法,其特征在于,具体步骤如下:(1)以硅材料作为靶材,硅靶放置在脉冲激光沉积设备的沉积室中,激光束经聚焦后透过窗口照射在硅靶表面。(2)清洗待镀膜工件表面,除去工件表面的沾污,然后烘干。(3)将工件放入激光脉冲沉积设备的沉积室中,与硅靶的距离为3-15厘米。抽真空至真空室内压强小于0.01Pa。(4)开启高能脉冲激光器,利用激光脉冲使硅靶表面局部瞬间蒸发,在待镀膜工件表面沉积一层硅薄膜。
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