[发明专利]一种RFID标签介质影响的基准测试系统及方法

摘要

本发明公开了一种RFID标签介质影响的基准测试系统及方法，由测试控制器、频谱分析仪、矢量信号发生器、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底介质材料、基底板支架，以及用来确定待测标签与基底介质材料之间间距的聚苯乙烯块组成，在输入能量相同的情况下，通过测量待测标签与不同基底介质材料间距若干确定距离时标签反向散射信号的变化来评价该测试标签对于不同基底材料和不同间距下的工作状态。利用该测试系统与方法，可以指导使用者在RFID部署前即根据应用环境中介质材料的特点选择更加友好和能量转换效率更高的RFID标签，进而为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。

主权项

一种测量RFID标签介质影响的基准测试系统，其特征在于：包括测试控制器、频谱分析仪、矢量信号发生器、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、统一尺寸的基底介质材料、基底板支架，以及用来确定待测标签与基底介质材料之间间距的聚苯乙烯块，其中发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底板支架置于标准测试环境中，发射天线固定于发射天线支架上，发射天线与矢量信号发生器通过射频馈线连接，用于感应待测标签；接收天线固定于接收天线支架上，接收天线与频谱分析仪通过射频馈线连接，用于接收待测标签响应；基底介质材料固定于基底板支架上；待测标签通过聚苯乙烯块与基底介质材料相连，聚苯乙烯块用来确定待测标签与基底介质材料之间间距，发射天线、接收天线、待测标签和基底介质材料位于同一中心线上，测试控制器通过局域网分别与矢量信号发生器和频谱分析仪相连，用于发送测试命令和接收待测标签反向散射信号，从而获得待测标签反向散射信号变化；基准测试过程中，固定发射天线与基底板支架之间的距离，矢量信号发生器输出激励待测标签产生响应的模拟信号，通过改变基底介质材料的种类和聚苯乙烯块的长度，在频谱分析仪上观测在不同介质和不同间距的情况下获取待测标签反向散射信号强度，并与参照值作对比，以所得到百分比作为介质对标签性能影响评价依据。