[发明专利]一种RFID标签排列密度的基准测试系统及方法

摘要

本发明公开了一种RFID标签排列密度的基准测试系统及方法，由测试控制器、频谱分析仪、标准读写器信令单元、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底板、基底板支架组成，在输入能量相同的情况下，通过测量RFID标签在不同排列方式和不同排列密度下反向散射信号与标签单独存在时反向散射信号的对比来评价该款测试标签在多标签部署时所受到的相邻标签干扰程度。利用该测试系统与方法，可以协助使用者在RFID部署前即根据应用环境中物品摆放的特点选择相互干扰更小和能量转换效率更高的RFID标签。进而为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。

主权项

一种RFID标签排列密度的基准测试系统，其特征在于：包括测试控制器、频谱分析仪、标准读写器信令单元、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、塑料基底板、基底板支架、主测试标签和从测试标签，其中发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、塑料基底板、基底板支架、主测试标签和从测试标签置于标准测试环境中，发射天线固定于发射天线支架上，发射天线与标准读写器信令单元通过射频馈线连接，用于感应主测试标签和从测试标签，接收天线固定于接收天线支架上，接收天线与频谱分析仪通过射频馈线连接，用于接收主测试标签和从测试标签响应；塑料基底板与基底板支架通过多轴方式连接，在塑料基底板上布置主测试标签和从测试标签的不同排列方式与不同的排列间距，发射天线、接收天线、主测试标签和塑料基底板位于同一中心线上，测试控制器通过局域网分别与标准读写器信令单元、频谱分析仪相连，用于发送测试命令和接收主测试标签反向散射信号从而获得主测试标签反向散射信号变化，基准测试时，首先以单标签读取方式获得主测试标签在塑料基底板固定位置处的主测试标签反向散射信号作为参照值，加入从测试标签，改变基底板支架方向实现不同的标签间距和排列组合，采取多标签读取方式获得主测试标签在不同的标签间距和排列方式组合下的主测试标签反向散射信号并与参照值作对比，所得百分比表达的评价指标作为邻近标签干扰影响程度的评价依据。