[发明专利]一种可观测超声条件下聚合物结晶过程的偏光显微镜装置有效

专利信息
申请号: 201010186229.0 申请日: 2010-05-26
公开(公告)号: CN101980066A 公开(公告)日: 2011-02-23
发明(设计)人: 刘丽;周杰;吴文潭 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G02B21/36 分类号: G02B21/36;G02B21/00;C30B29/58
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种可观测超声条件下聚合物结晶过程的偏光显微镜装置。它包括一个安置在光源发生器上方的样品台,样品台固定在一个上下开口的圆筒形加热装置中,该加热装置的外侧装有一个超声发生装置,样品台上搁置一个像转移装置,像转移装置上方设置一个观测装置。像转移装置利用透镜成像原理,将超声作用下的聚合物结晶貌图像转移至可观察区域,再利用观测装置对超声作用下聚合物的动态结晶过程进行观察研究。本发明极大扩展了偏光显微镜的应用范围。
搜索关键词: 一种 观测 超声 条件下 聚合物 结晶 过程 偏光 显微镜 装置
【主权项】:
一种可观测超声条件下聚合物结晶过程的偏光显微镜装置,包括一个安置在光源发生器(5)上方的样品台(6),其特征在于所述样品台(6)固定在一个上下开口的圆筒形加热装置(3)中,该圆筒加热装置(3)的外侧装有一个超声发生装置(4),在所述样品台(6)上搁置一个像转移装置(2),在该像转移装置(2)的上方设置一个观测装置(1);所述像转移装置(2)利用透镜成像原理,将超声作用下的聚合物的结晶形貌图像转移至可观察区域,再利用所述观测装置(1)对超声作用下聚合物的动态结晶过程进行观察研究。
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