[发明专利]三维形状测量设备和三维形状测量方法有效
| 申请号： | 201010194905.9 | 申请日： | 2010-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN101900534A | 公开（公告）日： | 2010-12-01 |
| 发明（设计）人： | 金浩;高光一;柳希昱;宋在明 | 申请（专利权）人： | 株式会社高永科技 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 韩明星;刘奕晴 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种三维形状测量设备和一种三维形状测量方法。三维形状测量设备包括：m个投影部，每个投影部包括光源和光栅元件，并且每个投影部在光栅元件移动n次时对每次移动将光栅图案光投影到测量目标上，其中，n和m是大于或等于2的自然数；成像部，拍摄被测量目标反射的光栅图案图像；控制部，在利用m个投影部之一拍摄光栅图案图像的同时控制至少另一个投影部的光栅元件移动。因此，可以缩短测量时间。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 形状 测量 设备 测量方法 | ||
【主权项】：
一种三维形状测量设备，所述三维形状测量设备包括：m个投影部，每个投影部包括光源和光栅元件，并且每个投影部在光栅元件移动n次时对每次移动将光栅图案光投影到测量目标上，其中，n和m是大于或等于2的自然数；成像部，拍摄被测量目标反射的光栅图案图像；控制部，在利用m个投影部之一拍摄光栅图案图像的同时控制至少另一个投影部的光栅元件移动。
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