[发明专利]位置侦测的装置及方法有效
申请号: | 201010197771.6 | 申请日: | 2010-04-16 |
公开(公告)号: | CN102023780A | 公开(公告)日: | 2011-04-20 |
发明(设计)人: | 叶尚泰;陈家铭;何顺隆 | 申请(专利权)人: | 禾瑞亚科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/047 | 分类号: | G06F3/047 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾台北市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种位置侦测的装置与方法,位置侦测的装置包含多数条导电条相叠构成的多数个相叠区,其中相叠于任一相叠区的一对导电条在电性接触形成一接触点时构成一被压触相叠区。依据被压触相叠区,可判断出每一个压触。藉由判断每一个被压触相叠区的接触阻抗,可判断出每一个压触的总接触阻抗,其中跨相叠区的压触的总接触阻抗为相应相同压触的所有相叠区的接触阻抗的并联阻抗。 | ||
搜索关键词: | 位置 侦测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种判断压触阻抗的装置,其特征在于包括:一感应器,包括多条导电条相叠构成的多个相叠区,其中相叠于任一相叠区的一对导电条因电性接触形成一接触点时构成一被压触相叠区;一驱动器,分别提供一高电位与一低电位;一侦测器,侦侧至少一导电条的一讯号;一选择器,操作性耦合该些导电条于该驱动器与该侦测器;以及一控制器,藉由控制该驱动器、该侦测器与该选择器判断每一被压触相叠区的一接触阻抗,其中每一被压触相叠区的该接触阻抗是依据该对导电条之一与另一在该接触点的电位与该被压触相叠区的位置来判断。
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