[发明专利]一种直接测量双电枢转子轴挠度的方法

摘要

本发明公开了一种直观并准确地得到双电枢转子轴的挠度的直接测量双电枢转子轴挠度的方法，包括以下步骤：确定基准点和最大挠度点的步骤；安装转子轴及校直转子轴的步骤；测量基准点档和最大挠度点档的实际外径的步骤；测量基准点档的半径变化量的步骤；测量基准点档与最大挠度点档的半径差值的步骤；计算步骤，先将所述基准点档的实际外径的平均值减去所述最大挠度点档的实际外径的平均值，再除以二，得到所述基准点档与所述最大挠度点档的实际半径差值P，然后用所述基准点档与最大挠度点档的半径差值Z减去所述基准点档的半径变化量J，再减去实际半径差值P，即得到的差值即为最大挠度点档的挠度N，其中最大值即为所述转子轴的最大挠度。

主权项

一种直接测量双电枢转子轴挠度的方法，所述双电枢转子轴包括依次连接的轴承档、中间档及联轴器档，其特征是，所述方法包括以下步骤：确定基准点和最大挠度点的步骤，以所述轴承档作为校调基准点档，以所述联轴器档作为测量的基准点档，以所述中间档的中部作为最大挠度点档；安装转子轴及校直转子轴的步骤，将所述转子轴水平地安装在车床上，利用安装在车床刀架上的千分表校正所述联轴器档与所述轴承档的外圆同心度，以保证两者之间的径向跳动小于0.01mm；测量基准点档和最大挠度点档的实际外径的步骤，先取所述基准点档的垂直中心线和水平中心线上的两个测量点用外径千分尺分别测量所述基准点档的实际外径，同时记录千分尺的读数，然后相应所述基准点档的两个测量点，用外径千分尺测量所述最大挠度点档的实际外径，同时记录千分尺的读数；测量基准点档的半径变化量的步骤，先在所述基准点档的同一圆周上按照米字形取八个测量点并做好标记，然后用安装在车床刀架上的千分表置于所述基准点档的最顶面，并在校零后读取并记录每个测量点的数值JⅠ～JⅧ，即为所述基准点档的半径变化量；测量基准点档与最大挠度点档的半径差值的步骤，先在所述最大挠度点档的同一圆周上对应所述基准点档的测量点确定八个测量点并做好对应标记，然后将千分表移到所述最大挠度点档的最顶面，读取并记录每个测量点的数值Z1～ZⅧ，即为每个测量点的所述最大挠度点档与所述基准点档的半径差值；计算步骤，先将所述基准点档的实际外径的平均值减去所述最大挠度点档的实际外径的平均值，再除以二，得到所述基准点档与所述最大挠度点档的实际半径差值P，然后用所述每个测量点的半径差值ZⅠ～ZⅧ减去对应测量点的所述基准点档的半径变化量JⅠ～JⅧ，再分别减去所述实际半径差值P，得到的差值即为所述最大挠度点档上每个测量点的挠度NⅠ～NⅧ，其中最大的差值即为所述转子轴的最大挠度。