[发明专利]一种IGBT器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201010200705.X 申请日: 2010-06-09
公开(公告)号: CN102280474A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 尹海洲;骆志炯;朱慧珑 申请(专利权)人: 尹海洲;骆志炯;朱慧珑
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L27/04;H01L29/41;H01L21/331;H01L21/77
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 马佑平
地址: 410007 湖南省长沙市*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提出了一种IGBT器件,包括基板,在所述基板中形成有一个双极管器件和至少一个MOS管器件,所述基板具有第一表面和与其相对的第二表面,以及第三表面和与其相对的第四表面;分别形成于所述第一表面和第二表面至少一个之上的、所述至少一个MOS器件的栅极区;以及分别形成于所述第三表面和第四表面上的、所述IGBT器件的集电极接触层和发射极接触层。本发明有效地利用了衬底的各个表面来形成IGBT器件的各个接触极,提高了器件的电流密度。相应地,本发明还提出了一种IGBT器件的制造方法,该方法能够有效地利用衬底的厚度,提高了衬底的表面积利用率,从而不必额外地引入减薄衬底的步骤而能够制造更薄的IGBT器件。
搜索关键词: 一种 igbt 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种IGBT器件,包括基板,在所述基板中形成有一个双极管器件和至少一个MOS管器件,所述基板具有第一表面和与其相对的第二表面,以及第三表面和与其相对的第四表面;形成于所述第一表面和第二表面至少一个之上的、所述至少一个MOS管器件的栅极区;以及分别形成于所述第三表面和第四表面上的、所述IGBT器件的集电极接触层和发射极接触层。
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