[发明专利]放射性测量中能谱漂移的模拟方法有效
| 申请号： | 201010206288.X | 申请日： | 2010-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN102298652A | 公开（公告）日： | 2011-12-28 |
| 发明（设计）人： | 黄洪全;方方;阎萍;王超;王敏;龚迪琛;丁卫撑;刘念聪;周伟;刘易 | 申请（专利权）人： | 成都理工大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;G01T1/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610059 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种放射性测量中能谱漂移的模拟方法。首先对放射性测量中已测得的能谱进行滤波处理；其次，对得到的能谱进行归一化，将归一化后的数据作为概率密度函数；然后，建立该概率密度函数的HMM双重模型；最后，由HMM双重模型实时修正GMM模型参数，并采用随机抽样产生随机数，模拟放射性测量中能谱的漂移。本发明对能谱漂移的模拟具有方便、灵活、逼真的特点，是模拟放射性测量中能谱漂移的有效方法。 | ||
| 搜索关键词： | 放射性 测量 中能谱 漂移 模拟 方法 | ||
【主权项】：
放射性测量中能谱漂移的模拟方法，其特征在于，具体步骤如下：①对放射性测量中已测得的能谱进行滤波处理；②对滤波处理后的能谱进行归一化，将归一化后的数据作为概率密度函数；③建立该概率密度函数的HMM双重模型；④由HMM双重模型实时修正GMM模型参数，并采用随机抽样产生随机数，模拟放射性测量中能谱的漂移。
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