[发明专利]曝光设备和器件制造法无效
申请号: | 201010214662.0 | 申请日: | 2003-12-08 |
公开(公告)号: | CN101872135A | 公开(公告)日: | 2010-10-27 |
发明(设计)人: | 蛭川茂;马入伸贵;田中一政 | 申请(专利权)人: | 株式会社尼康 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 张建涛;车文 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及曝光设备和器件制造法。具体地,本发明提供了一种曝光设备,它用能量束照射图案并且经投影光学系统把所述图案转印到基片上,所述曝光设备包括:一个基片台,基片台上安装着所述基片,所述基片台在保持所述基片的二维平面内移动;一个干涉仪,它测量所述基片台的位置;一个供应机构,它把液体供应到所述投影光学系统和所述基片台上的所述基片之间的空间;一个回收机构,它回收所述液体;和一个空气调节机构,它在所述投影光学系统和所述基片之间的所述液体的周围执行空气调节。 | ||
搜索关键词: | 曝光 设备 器件 制造 | ||
【主权项】:
一种曝光设备,它用能量束照射图案并且经投影光学系统把所述图案转印到基片上,所述曝光设备包括:一个基片台,基片台上安装着所述基片,所述基片台在保持所述基片的二维平面内移动;一个干涉仪,它测量所述基片台的位置;一个供应机构,它把液体供应到所述投影光学系统和所述基片台上的所述基片之间的空间;一个回收机构,它回收所述液体;和一个空气调节机构,它在所述投影光学系统和所述基片之间的所述液体的周围执行空气调节。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社尼康,未经株式会社尼康许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010214662.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体产品级别控制的方法与系统
- 下一篇:安全成像系统