[发明专利]一种利用云室进行微粒测量的系统及方法

摘要

本发明提出了一种利用云室进行微粒测量的系统及方法，属于微粒测量技术领域，该系统包括有起支撑作用的机身，对应机身设置的用以对微粒附加电荷的电荷附加器，与机身对应设置的用以显示带电微粒运动轨迹的云室，与云室对应设置的用以摄录带电微粒运动轨迹的摄像装置，与摄像装置相连用以根据拍摄图像判定微粒状况的微粒分析组件。其对应的测量方法为给微粒加电，将带电微粒导入至云室，带电微粒在云室中运动并摄录其运动状况，依据所摄录的数据分析微粒的状况。本发明通过对拍摄的带电微粒在云室中的运动径迹的分布、浓度和截面来分析微粒的浓度和粒度，从而为利用云室对微粒测量特别是纳米颗粒的测量技术的进步提出了一定的新思路。

主权项

一种利用云室进行微粒测量的系统，其特征在于，该系统包括有：机身，它是与用途有关的支撑结构，包括有用以输送微粒的通道；电荷附加器，它是与前述的机身对应设置的电荷释放结构，用以对待测量的微粒进行电荷附加操作；云室，它是与机身对应设置的通过前述的电荷附加器来加载上电荷的带电微粒的最终导入场所，用以通过带点微粒在云室中的凝聚效应来显示出带电微粒的运动轨迹；摄像装置，它是与前述的云室对应设置的摄像结构，用以摄录带电微粒在云室中凝聚的轨迹状况；微粒分析组件，它与前述的摄像装置相连通，用以依据预先建立的微粒的轨迹状况与微粒状况的对应关系，对摄录的带电微粒的运动轨迹的状况进行分析，并判定得出微粒的状况。