[发明专利]一种测井频率匹配薄层校正方法与设备

摘要

本发明实施例公开了一种测井频率匹配薄层校正方法及设备。本发明实施例的测井频率匹配薄层校正方法及设备，能够针对目前的薄层、薄气层发育的油气田，储层厚度薄，测井曲线受围岩影响，畸变现象严重的问题，提高测井曲线的纵向分辨率，从而真实反映地层信息。

主权项

一种测井频率匹配薄层校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取待校正测井曲线，并从所述的待校正测井曲线中提取待校正测井曲线纵向分辨率；获取纵向分辨率高于所述待校正测井曲线纵向分辨率的一条基准测井曲线；根据所述的待校正测井曲线和基准测井曲线，分别选取相同深度段的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据，生成相同深度点的待校正测井曲线数据与基准测井曲线数据的映射关系；根据所述的映射关系，对各深度点对应的待校正测井曲线数据和基准测井曲线数据进行频域变换，生成对应的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据；将所述的待校正测井曲线频谱数据和基准测井曲线频谱数据进行叠加，生成频率截止值；提取所述基准测井曲线频谱数据中的基准频率最大值，并将所述基准测井曲线频谱数据中位于所述频率截止值至所述基准频率最大值之间的频率段加到所述待校正测井曲线频谱数据中，生成叠加频谱数据；对所述的叠加频谱数据进行时域变换并在时域中进行处理，生成待校正测井曲线校正数据；将所述待校正测井曲线校正数据生成的校正曲线作为频率匹配薄层校正的结果输出。