[发明专利]一种基于荧光光谱的溢油种类识别方法无效
申请号: | 201010216725.6 | 申请日: | 2010-06-22 |
公开(公告)号: | CN101923649A | 公开(公告)日: | 2010-12-22 |
发明(设计)人: | 赵朝方;齐敏珺;马佑军;李晓龙 | 申请(专利权)人: | 中国海洋大学 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62;G01N21/64;G01N21/65 |
代理公司: | 青岛联智专利商标事务所有限公司 37101 | 代理人: | 李升娟 |
地址: | 266100 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于荧光光谱的溢油种类识别方法,包括建立溢油识别模型的过程,以及通过溢油识别模型识别溢油种类的过程;建立溢油识别模型的过程包括建立初次识别模型的步骤和建立二次识别模型的步骤,其中,建立二次识别模型的步骤是基于已知溢油种类的光谱、利用粒子群优化算法选择全局最优二次识别模型;通过溢油识别模型识别溢油种类的过程包括采用初次识别模型识别溢油种类的步骤以及根据初次识别结果判断是否采用二次识别模型进行识别的步骤。本发明通过分层次的识别分类方法,增加了可识别溢油种类的数量,提高了方法的识别效率和自适应能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 荧光 光谱 溢油 种类 识别 方法 | ||
【主权项】:
一种基于荧光光谱的溢油种类识别方法,包括建立溢油识别模型的过程,以及通过溢油识别模型识别溢油种类的过程,其特征在于,建立溢油识别模型的过程包括建立初次识别模型的步骤和建立二次识别模型的步骤;建立初次识别模型的步骤包括建立标准匹配光谱库的子步骤和建立模型算法的子步骤,所述标准匹配光谱库中包括有待识别的溢油种类的参考光谱;建立二次识别模型的步骤是基于已知溢油种类的光谱、利用粒子群优化算法选择全局最优二次识别模型;通过溢油识别模型识别溢油种类的过程包括采用初次识别模型识别溢油种类的步骤以及根据初次识别结果判断是否采用二次识别模型进行识别的步骤。
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