[发明专利]一种基于标准差与偏斜度的模拟电路故障诊断神经网络方法有效

专利信息
申请号: 201010216808.5 申请日: 2010-07-05
公开(公告)号: CN101894296A 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 何怡刚;祝文姬 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: G06N3/02 分类号: G06N3/02;G01R31/316
代理公司: 长沙星耀专利事务所 43205 代理人: 宁星耀
地址: 410082 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 一种基于标准差与偏斜度的模拟电路故障诊断神经网络方法,其包括以下步骤:1)对元件无容差情况下电路,各种故障状态下进行交流分析,提取幅频特性,计算标准差与偏斜度,获无容差样本;2)对元件有容差情况下电路,各种故障状态下进行交流分析和蒙特卡罗分析提取幅频特性,计算标准差与偏斜度,获容差样本;3)对电路某一元件参数由0变到无穷大时,进行参数扫描分析,求取标准差与偏斜度之间轨迹,寻找故障特征规律;4)将1)-3)步获得的标准差与偏斜度组成特征向量,输入神经网络,进行故障分类。使用本发明,克服了频谱混叠;简化神经网络结构,网络训练时间短,故障定位准确性高,并且能正确区分电路的容差允许范围状态、软故障状态及硬故障状态。
搜索关键词: 一种 基于 标准差 偏斜 模拟 电路 故障诊断 神经网络 方法
【主权项】:
一种基于标准差与偏斜度的模拟电路故障诊断神经网络方法,其特征在于,包括以下步骤:1)对元件无容差情况下的电路,在各种故障状态下进行交流分析,提取其幅频特性,计算标准差与偏斜度,获得无容差样本;2)对元件有容差情况下的电路,在各种故障状态下进行交流分析和蒙特卡罗分析提取其幅频特性,计算其标准差与偏斜度,获得容差样本;3)对电路某一元件参数由0变换到无穷大时,对电路进行参数扫描分析,求取电路响应的标准差与偏斜度之间的轨迹,寻找故障特征的规律;4)将1)‑3)步所获得的标准差与偏斜度组成特征向量,输入神经网络中,进行故障的分类。
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