[发明专利]一种用于粒子图像测速仪的三维激光测准定位仪有效

专利信息
申请号: 201010217035.2 申请日: 2010-06-23
公开(公告)号: CN101900744A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: 徐胜金;张卫国;张洪军;周凯 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01P5/20 分类号: G01P5/20;G01P1/00
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 邸更岩
地址: 100084 北京市10*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种用于粒子图像测速仪的三维激光测准定位仪,属于流体力学实验技术领域。该定位仪包括三维坐标调节架和激光片光校正系统,三维坐标调节架包括Z向坐标架、Y向坐标架、X向坐标架、前定位十字标尺、后定位十字标尺、旋转基座和底座;激光片光校正系统包括上下两块结构相同的激光片光校正板、对焦标尺、光电检测板和光电指示器。本发明使用三维坐标调节架可精确确定测试平面位置,通过激光片光校正系统实现流场测试平面、激光片光面和相机拍摄平面的三面重合,并利用光电检测装置自动检测重合度,避免了以往肉眼观察等经验标定方法带来的人为误差,使粒子图像测速仪标定过程更为简易、规范和准确。
搜索关键词: 一种 用于 粒子 图像 测速 三维 激光 准定
【主权项】:
一种用于粒子图像测速仪的三维激光测准定位仪,其特征在于:该定位仪包括三维坐标调节架和激光片光校正系统;所述的三维坐标调节架包括Z向坐标架(6)、Y向坐标架(7)、X向坐标架(8)、前定位十字标尺(9)、后定位十字标尺(10)、旋转基座(11)和底座(12);所述的激光片光校正系统包括上下两块结构相同的激光片光校正板、对焦标尺(3)、光电检测板(4)和光电指示器(5);在激光片光上校正板(1)和激光片光下校正板(2)上均平行布置一组不同宽度的狭缝;所述的对焦标尺(3)设置在两块激光片光校正板对应的狭缝之间;激光片光通过激光片光上校正板和激光片光下校正板对应的狭缝照射在光电检测板(4)上,光电检测板通过信号线与光电指示器(5)相连接;所述的两块激光片光校正板和光电检测板由上至下设置在Z向坐标架(6)上,并沿Z向坐标架上下移动;所述的Z向坐标架(6)垂直安装在Y向坐标架(7)上,并沿Y方向移动,Y向坐标架(7)安装在X向坐标架(8)上,并沿X方向移动;所述的前定位十字标尺(9)和后定位十字标尺(10)平行设置在X向坐标架(8)两端;所述的X向坐标架(8)设置在所述的旋转基座(11)上,旋转基座(11)安装在底座(12)上。
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