[发明专利]一种系统测试方法及装置有效
| 申请号： | 201010217707.X | 申请日： | 2010-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN101872324A | 公开（公告）日： | 2010-10-27 |
| 发明（设计）人： | 王欣 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 100083 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种系统测试方法，用于提高测试效率。所述方法包括：通过运行测试软件调用后门接口，其中该测试软件的层次和结构与被测系统的层次和结构一一对应；通过后门接口调用后门处理程序；其中一个后门接口对应一个层次中的一个结构；通过执行后门处理程序对系统中该后门接口对应的层次和结构的测试对象进行测试。本发明还公开了用于实现所述方法的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 系统 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种系统测试方法，其特征在于，包括以下步骤：通过运行测试软件调用后门接口，其中该测试软件的层次和结构与被测系统的层次和结构一一对应；通过后门接口调用后门处理程序，其中一个后门接口对应一个层次中的一个结构；通过执行后门处理程序对系统中该后门接口对应的测试对象进行测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中星微电子有限公司，未经北京中星微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010217707.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
