[发明专利]物质成分含量的近红外光谱无损检测方法及装置无效
申请号: | 201010218291.3 | 申请日: | 2010-07-05 |
公开(公告)号: | CN101915744A | 公开(公告)日: | 2010-12-15 |
发明(设计)人: | 张广军;李庆波;李丽娜 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 程殿军 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种物质成分含量的近红外光谱无损检测方法及装置,利用其装置,通过采用光谱仪采集校正集样本、对光谱进行预处理、通过样本优选选择最优的校正样本集和利用最优的校正样本集建立非线性校正模型等步骤,然后利用光谱仪采集未知成分含量的光谱样本,经与校正集样本相同的光谱预处理,通过已建非线性校正模型检测该未知样本的成分含量。采用本发明提供的方法和装置,能够有效解决现有物质成分含量的近红外无损检测方法中校正模型复杂、训练速度慢、不易于硬件实现的问题,并能显著提高物质成分含量无损检测结果的精度及稳定性。 | ||
搜索关键词: | 物质 成分 含量 红外 光谱 无损 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种物质成分含量的近红外光谱无损检测方法,其特征在于,该检测方法包括:A、利用近红外光谱仪采集大量被测样品的近红外光谱数据,构成校正样本集;B、采用标准分析方法测定校正样本集中样本待测组分的化学含量的真值;C、对所述近红外光谱数据进行预处理,以去除噪声、基线或其他干扰待测物质成分信息的无用信号;D、对上述经预处理后的校正集样本的光谱数据进行基于自模型混合物分析的校正集样本优选;E、用优选出的校正样本集建立基于核函数变换的非线性偏最小二乘校正模型;F、用所构造的基于核函数变换的非线性偏最小二乘校正模型,检测未知样本的物质成分含量。
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