[发明专利]触控面板近接侦测装置与方法有效
申请号: | 201010220801.0 | 申请日: | 2010-07-02 |
公开(公告)号: | CN102314269A | 公开(公告)日: | 2012-01-11 |
发明(设计)人: | 陈亦达;颜敏峰 | 申请(专利权)人: | 谊达光电科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 逯长明 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明为一种触控面板近接侦测装置与方法。运用在单层电极层中以矩阵方式排列的电极结构的电容式触控面板,其电极的近接感应功能可侦测到近接感应信号,将近接感应信号输出为一阶或多阶近接数据,并依据一阶或多阶近接资料计算出各个维度的相对坐标与移动趋势。通过不同时序的一阶近接数据可得空间中的平面移动手势,通过多阶近接资料可取得三个维度的移动趋势,并计算近接空间当中的三维手势。 | ||
搜索关键词: | 面板 侦测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种触控面板近接侦测装置,其特征在于,包含:一电容式触控面板,具有位于同一平面的多个电极,该些电极彼此绝缘并各自对应于一坐标,该些电极用以侦测一对象的接近而产生一感应信号,并侦测该对象的触碰而产生一触碰信号;及一控制单元,连接该电容式触控面板并具有一近接侦测模式与一触碰侦测模式,当执行该近接侦测模式时,依据该感应信号产生一近接数据,当执行该触碰侦测模式时,依据该触碰信号计算该对象的至少一坐标数据。
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