[发明专利]一种籽棉中透明塑料杂质的检测方法无效

专利信息
申请号: 201010221178.0 申请日: 2010-06-25
公开(公告)号: CN102004913A 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 季宏斌;刘培彦;陈涛 申请(专利权)人: 南通棉花机械有限公司
主分类号: G06K9/20 分类号: G06K9/20;G06T5/00;G06T7/00;G01N21/21
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地址: 226002 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种籽棉中透明塑料杂质的检测与剔除方法。属于棉花加工机械和光学检测技术领域。LED光源照射于起偏器,获得偏振光,照射含有透明塑料杂质如农用地膜等的被测籽棉,棉籽和杂质经过一个垂直通道实现自由下落运动,偏振光经过透明塑料杂质改变偏振状态后发生干涉,检偏后,获得杂质特征最强的偏振图像,并成像于CCD传感器或相机,二值化图像后,运用形态学方法将上述图像分割,计算杂质在图像中的质心坐标,结合籽棉的下落速度,检测到杂质运动中的动态坐标,为剔除机构对该杂质的剔除提供保证。本发明的检测方法操作简单,检测成本低,响应快速灵敏,效果好。
搜索关键词: 一种 籽棉 透明 塑料 杂质 检测 方法
【主权项】:
一种籽棉中透明塑料杂质的检测方法,其特征在于该方法包括以下步骤:(1)LED光源(1)照射于采用偏振片或偏振玻璃的起偏器(8),获得偏振光,再将上述偏振光照射含有透明塑料杂质如农用地膜等的被测籽棉(2),上述含有杂质的被测籽棉(2)经过一个垂直通道实现自由下落运动,该偏振光经过透明塑料杂质改变偏振状态后出射;(2)对上述从被测籽棉中出射的偏振光经采用偏振片或偏振玻璃的检偏器(10)检偏,获得最强的偏振图像,并成像于CCD传感器或相机(3);(3)对上述CCD传感器或相机(3)采集的图像二值化,再运用形态学方法将上述图像分割,在该二值化图像中,每一单个透明塑料杂质是一簇像素联合体,上述像素联合体在8连通范围内相互连接,利用像素边缘搜索确定杂质所在面积区域,计算籽棉和杂质联合体内透明塑料杂质横纵坐标的平均值,作为杂质的质心坐标;(4)将上述坐标信息结合上述杂质质心和籽棉(2)的下落速度,从而检测到上述杂质运动中的动态位置坐标,再将杂质清除出来。
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