[发明专利]力学量检测构件和力学量检测装置无效
| 申请号： | 201010223201.X | 申请日： | 2010-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN101950224A | 公开（公告）日： | 2011-01-19 |
| 发明（设计）人： | 角野宏治 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了一种力学量检测构件及力学量检测装置。其中，该力学量检测构件包括：基体，其包括接触部的一部分或全部根据接触物体的按压而变形，并且当接触物体的按压消失时，其恢复初始形状；用作位移电极的多个电极固定至基体的表面或内部，并且至少一个电极设置在基体的变形部(其为在变形期间内可变形和可移位的区域)中；以及配线，连接至电极。在变形期间，位移电极随着变形部的变形和位移而变形和移位，而不会与基体分离并且不会破坏导电性。变形部的变形和移位作为检测电极间的电容变化来检测。 | ||
| 搜索关键词： | 力学 检测 构件 装置 | ||
【主权项】：
一种力学量检测构件，包括：基体，其包括接触部的一部分或全部根据接触物体的按压而变形，并且当所述接触物体的按压消失时，其恢复初始形状；用作位移电极的多个电极，所述多个电极固定至所述基体的表面或内部，并且至少一个所述电极设置在所述基体的变形部中，所述变形部为在变形期间可变形和可移位的区域；以及配线，被连接至所述电极，其中，在所述变形期间，所述位移电极随着所述变形部的变形和位移而变形和移位，而不会与所述基体分离并且不会破坏导电性，以及其中，所述变形部的所述变形和移位作为所述电极间的电容变化来检测。
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