[发明专利]嵌入式设备测试系统及方法无效

专利信息
申请号: 201010223749.4 申请日: 2010-07-14
公开(公告)号: CN102331952A 公开(公告)日: 2012-01-25
发明(设计)人: 林玉龙;董华;谭杰君;谢奕勇 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06F11/00 分类号: G06F11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种嵌入式设备测试系统,运行于主机中,所述主机与嵌入式设备通信连接,该系统包括:启动侦测模块,用于侦测嵌入式设备是否启动;登录模块,用于在侦测到嵌入式设备启动后登录嵌入式设备;状态侦测模块,用于侦测嵌入式设备当前的设备状态;确定模块,用于判断嵌入式设备当前的设备状态是否是结束状态,以及在嵌入式设备当前的设备状态不是结束状态时确定与嵌入式设备当前的设备状态相对应的测试命令;及测试模块,用于将确定的测试命令发送至嵌入式设备,对嵌入式设备执行相应的测试。本发明还提供一种嵌入式设备测试方法。本发明能够根据测试过程中出现的情况作出相应的处理,保证测试的顺利进行。
搜索关键词: 嵌入式 设备 测试 系统 方法
【主权项】:
一种嵌入式设备测试系统,运行于主机中,所述主机与嵌入式设备通信连接,其特征在于,该系统包括:启动侦测模块,用于侦测嵌入式设备是否启动;登录模块,用于在侦测到嵌入式设备启动后登录嵌入式设备;状态侦测模块,用于侦测嵌入式设备当前的设备状态;确定模块,用于判断嵌入式设备当前的设备状态是否是结束状态,以及在嵌入式设备当前的设备状态不是结束状态时确定与嵌入式设备当前的设备状态相对应的测试命令;及测试模块,用于将确定的测试命令发送至嵌入式设备,对嵌入式设备执行相应的测试。
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