[发明专利]一种用于透明材料厚度检测的光学系统无效
申请号: | 201010224486.9 | 申请日: | 2010-07-13 |
公开(公告)号: | CN102331615A | 公开(公告)日: | 2012-01-25 |
发明(设计)人: | 徐熙平;乔杨;刘涛 | 申请(专利权)人: | 徐熙平;长春理工大学 |
主分类号: | G02B13/00 | 分类号: | G02B13/00;G02B13/18;G01B11/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 130022 吉林省长春市*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明公开一种用于透明材料厚度检测的光学系统,其可以检测厚度在0.02mm-11mm之间的透明材料。该光学系统一共包括三个透镜,第一透镜是负透镜,第二透镜是正透镜,第三透镜是正透镜。这些透镜采用同种材料,且其中第三透镜的后一个面还设计成了非球面。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 透明 材料 厚度 检测 光学系统 | ||
【主权项】:
一种用于透明材料厚度检测的光学系统,其可以把测量精度提升至微米级。该光学系统主要包括三个透镜,其特征在于:系统由三个透镜组成,第一透镜是负透镜,第二透镜是正透镜,第三透镜是正透镜。
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