[发明专利]大豆子叶节法转基因精确划痕仪

摘要

大豆子叶节法转基因精确划痕仪，它涉及一种大豆子叶节法转基因划痕仪。以解决农杆菌介导的大豆子叶节遗传转化法中外植体的处理都是随机划伤，无法确保切割到分生组织细胞和定量处理分生组织细胞的量的问题。第一支撑架上的两根第一梁柱与第二支撑架上的两根第二梁柱垂直设置，通过微调节第一微调节器使第一微移平台沿两根第一梁柱微动；通过微调节第二微调节器使第二微移平台在两根第二梁柱上微动；第一微动平台上固装有支撑体，连接柄的一端与支撑体连接，另一端与托盘固接，托盘上设有凹坑，连接柄与两个固定杆铰接，第三微调节器通过支臂与第二微移平台固接，第三微调节器的测量端与刀头可拆卸连接以便于灭菌处理。本发明用于大豆子叶节法转基因精确划痕。

主权项

一种大豆子叶节法转基因精确划痕仪，其特征在于：所述划痕仪由底座（1）、支臂（2）、支撑体（3）、承载台、刀头（4）、两个支撑座、两个支撑架、两个微移平台、两个固定杆（5）和三个微调节器组成；两个支撑架分别是第一支撑架（6）和第二支撑架（7），两个微移平台分别是第一微移平台（8）和第二微移平台（9），三个微调节器分别是第一微调节器（10）、第二微调节器（11）和第三微调节器（12），两个支承座分别是第一支承座（13）和第二支承座（14），两个支撑架和两个支承座均分别固装在底座（1）的上端面上，第一支撑架（6）上的两根平行设置的第一梁柱（6-1）与第二支撑架（7）上的两根平行设置的第二梁柱（7-1）在同一水平面上且二者垂直设置，第一微调节器（10）的中心轴线与第一支撑架（6）上的该两根第一梁柱（6-1）的中心轴线平行设置，第一微调节器（10）通过第一支撑座（13）支撑，第一微调节器（10）的测量端与第一微移平台（8）相对应的侧端面连接，第一微移平台（8）通过第一支撑架（6）支撑，第一微移平台（8）与第一支撑架（6）上的该两根第一梁柱（6-1）滑动配合，通过微调节第一微调节器（10）使第一微移平台（8）沿第一支撑架（6）上的该两根第一梁柱（6-1）微动；第二微调节器（11）的中心轴线与第二支撑架（7）上的该两根第二梁柱（7-1）的中心轴线平行设置，第二微调节器（11）通过第二支撑座（14）支撑，第二微调节器（11）的测量端与第二微移平台（9）相对应的侧端面连接，第二微移平台（9）通过第二支撑架（7）支撑，第二微移平台（9）与第二支撑架（7）上的该两根第二梁柱（7-1）滑动配合，通过微调节第二微调节器（11）使第二微移平台（9）在第二支撑架（7）上的该两根第二梁柱（7-1）上微动；第一微动平台（8）的上端面上固装有支撑体（3），承载台（15）水平设置，承载台（15）由连接柄（15-1）和托盘（15-2）组成，连接柄（15-1）的一端与支撑体（3）可拆卸连接，连接柄（15-1）的另一端与托盘（15-2）固接，托盘（15-2）设置在两个微移平台之间的空间内，托盘（15-2）上设有用于承载大豆子叶的凹坑（15-3），凹坑（15-3）的深度为2~3mm，连接柄（15-1）的两侧各设置有一个与其铰接的固定杆（5），第三微调节器（12）垂直于底座（1）设置，第三微调节器（12）通过支臂（2）与第二微移平台（9）的上端面固接，第三微调节器（12）的测量端与刀头（4）可拆卸连接，刀头（4）用于切割置于凹坑（15-3）内的大豆子叶节。