[发明专利]正栅极结构的场发射器件中绝缘层的制作方法无效

专利信息
申请号: 201010229148.4 申请日: 2010-07-16
公开(公告)号: CN101882548A 公开(公告)日: 2010-11-10
发明(设计)人: 李志明;孙晓娟;宋航;黎大兵;陈一仁;缪国庆;蒋红 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H01J9/14 分类号: H01J9/14
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 陶尊新
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 正栅极结构的场发射器件中绝缘层的制作方法,涉及平板场发射真空光电子器件领域,它解决了现有制作绝缘层的工艺复杂,绝缘性差,成品率低的问题,首先利用光刻技术在阴极电极条上做光刻胶占位点,然后旋涂低熔点玻璃浆料,经过烘干、整形以及适当温度烧结以及低熔点玻璃浆料的表面抛光,实现低熔点玻璃浆料与光刻胶具有相同的厚度。最后通过去除光刻胶占位点,得到用于场发射体发射的孔洞,再结合超声波振动,制备出完好的正栅极结构场发射的栅极绝缘层。
搜索关键词: 栅极 结构 发射 器件 绝缘 制作方法
【主权项】:
正栅极结构的场发射器件中绝缘层的制作方法,其特征是,该方法由以下步骤实现:步骤一、采用真空镀膜技术,在ITO玻璃表面蒸镀铬金属;步骤二、采用光刻、腐蚀的方法在步骤一所述铬金属的表面制备阴极电极条;获得带有电极的场发射阴极衬底;步骤三、在步骤二所述的阴极电极条的表面旋涂光刻胶,然后对所述光刻胶采用适当的温度进行前烘、曝光后进行两次显影;采用等离子体干法刻蚀机对旋涂的光刻胶进行等离子体氧化,获得带有光刻胶占位点的玻璃衬底;步骤四、将步骤三获得的光刻胶占位点的玻璃衬底上旋涂低熔点玻璃粉绝缘浆料,然后将所述玻璃衬底放入烤炉中进行两次烧结,采用金刚砂通过光学磨削加工法去除高于光刻胶占位点上的低熔点玻璃粉;获得与光刻胶占位点高度相同的低熔点玻璃粉的ITO玻璃衬底;步骤五、对步骤四所述的ITO玻璃衬底继续烧结,去除光刻胶的占位点,获得发射器件的腔体;步骤六、对步骤五获得发射器件的腔体采用超声波振动,获得正栅极结构中场发射器件的绝缘层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010229148.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top