[发明专利]落锤试块测量系统无效
申请号: | 201010230078.4 | 申请日: | 2010-07-19 |
公开(公告)号: | CN101886905A | 公开(公告)日: | 2010-11-17 |
发明(设计)人: | 潘福庚;王德泰 | 申请(专利权)人: | 上海电气核电设备有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00;G01B5/28;G01B5/02 |
代理公司: | 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241 | 代理人: | 章蔚强 |
地址: | 201306 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种落锤试块测量系统,它包括一基座、一滑块和一数显百分表;所述基座的上表面设有一矩形槽,且该矩形槽的槽底设有一腰形通孔;所述滑块包括由上至下一体成型的柱体和呈倒几字型的底座,所述底座凸槽的外壁与所述基座的矩形槽的槽壁相匹配,所述柱体的顶面设有一轴孔;所述数显百分表包括依次连接的读数机构、测杆和测头,所述测杆依次伸入所述轴孔和腰形通孔,并与所述滑块连接。本发明为降低裂纹、气孔敏感性,为减少焊缝金属塑性的下降,为优化焊接工艺参数和辅助工艺措施提供了强有力的测量依据,同时也为产品质量提供了有效保障。 | ||
搜索关键词: | 落锤 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种落锤试块测量系统,其特征在于,所述的测量系统包括一基座、一滑块和一数显百分表;所述基座的上表面设有一矩形槽,且该矩形槽的槽底设有一腰形通孔;所述滑块包括由上至下一体成型的柱体和呈倒几字型的底座,所述底座凸槽的外壁与所述基座的矩形槽的槽壁相匹配,所述柱体的顶面设有一轴孔;所述数显百分表包括依次连接的读数机构、测杆和测头,所述测杆依次伸入所述轴孔和腰形通孔,并与所述滑块连接。
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