[发明专利]一种铁电薄膜退极化时间的测量方法有效
申请号: | 201010231417.0 | 申请日: | 2010-07-16 |
公开(公告)号: | CN101915878A | 公开(公告)日: | 2010-12-15 |
发明(设计)人: | 郑分刚;方亮;董雯;沈明荣;曹大威 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R19/00 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 陶海锋 |
地址: | 215123 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种铁电薄膜退极化时间的测量方法,其特征在于:包括下列步骤:(1)在铁电薄膜上分别设置上电极和下电极,构成金属/薄膜/金属电容器结构,将测量系统置于电磁屏蔽罩及暗室中;(2)在上述电容器结构上施加外加电场;(3)撤除外加电场,等待时间间隔T后,用光源从薄膜上方照射样品表面,采集记录光电流随时间的变化曲线;(4)从0开始逐渐增大时间间隔T,重复上述步骤(2)和(3),分别记录在不同的时间间隔T下的光电流变化曲线,至光电流变化曲线中的峰值电流不再发生变化时停止;(5)光电流变化曲线中的峰值电流达到最小时的时间间隔T,即为该铁电薄膜的退极化时间。本发明的方法能测量铁电薄膜的退极化时间,解决了现有技术中不能表征退极化快慢的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄膜 退极化 时间 测量方法 | ||
【主权项】:
一种铁电薄膜退极化时间的测量方法,其特征在于:包括下列步骤:(1)在铁电薄膜上分别设置上电极和下电极,构成金属/薄膜/金属电容器结构,将测量系统置于电磁屏蔽罩内,并放置于暗室中;(2)在上述电容器结构上施加外加电场,以极化薄膜;(3)撤除外加电场,等待时间间隔T后,用光源从薄膜上方照射样品表面,采集记录光电流随时间的变化曲线;(4)从0开始逐渐增大时间间隔T,重复上述步骤(2)和(3),分别记录在不同的时间间隔T下的光电流变化曲线,至光电流变化曲线中的峰值电流不再发生变化时停止;(5)光电流变化曲线中的峰值电流达到最小时的时间间隔T,即为该铁电薄膜的退极化时间。
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