[发明专利]一种用于提高软X射线线偏振度的反射式偏振元件和方法无效
| 申请号： | 201010232543.8 | 申请日： | 2010-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN101937730A | 公开（公告）日： | 2011-01-05 |
| 发明（设计）人： | 赵佳 | 申请（专利权）人： | 北京工商大学 |
| 主分类号： | G21K1/16 | 分类号： | G21K1/16 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 朱丽华 |
| 地址： | 100048*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于提高软X射线线偏振度的反射式偏振元件及方法，其偏振元件为人工晶体制成的反射式偏振晶片，该反射式偏振晶片具有被抛光处理的反射镜面。一种提高软X射线线偏振度的方法，其是通过人工晶体晶片来获取高线偏振度的软X射线，软X射线选取在50-180eV能区范围。其可以省去现有技术中的设计和复杂工艺制备过程的麻烦；利用新的反射式偏振元件来实现获取高线偏振度的软X射线。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 提高 射线 偏振 反射 元件 方法 | ||
【主权项】：
一种用于提高软X射线线偏振度的反射式偏振元件，其特征在于：该偏振元件为人工晶体制成的反射式偏振晶片，该反射式偏振晶片具有被抛光处理的反射镜面。
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