[发明专利]晶振振动测试夹具无效

专利信息
申请号: 201010233955.3 申请日: 2010-07-22
公开(公告)号: CN101907509A 公开(公告)日: 2010-12-08
发明(设计)人: 文胜云;肖攀 申请(专利权)人: 成都九洲迪飞科技有限责任公司
主分类号: G01M7/02 分类号: G01M7/02;G01M7/06
代理公司: 成都立信专利事务所有限公司 51100 代理人: 黄立
地址: 610041 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明的晶振振动测试夹具,涉及电子通信领域,旨在解决目前对晶振进行振动实验极为困难、批量振动实验效率低、成本高等技术问题。本发明的晶振振动测试夹具,由定位板(1)、压板(2)、垫板(3)和连接件构成,被测晶振(4)排布在设于上部的定位板(1)和设于下部的垫板(3)之间,垫板(3)下方设有压板(2);前述定位板(1)、压板(2)、垫板(3)由数组连接件固定连接,每组连接件由螺钉(5)和螺母(6)构成,螺钉(5)穿过定位板(1)、压板(2)、垫板(3)上相应开孔,与螺母(6)在定位板(1)上相连接;定位板(1)上设有与被测晶振(4)的晶振引脚(7)相配合的开孔。本发明适用于晶振振动测试。
搜索关键词: 振动 测试 夹具
【主权项】:
晶振振动测试夹具,其特征在于:由定位板(1)、压板(2)、垫板(3)和连接件构成,被测晶振(4)排布在设于上部的定位板(1)和设于下部的垫板(3)之间,垫板(3)下方设有压板(2);前述定位板(1)、压板(2)、垫板(3)由数组连接件固定连接,每组连接件由螺钉(5)和螺母(6)构成,螺钉(5)穿过定位板(1)、压板(2)、垫板(3)上相应开孔,与螺母(6)在定位板(1)上相连接;定位板(1)上设有与被测晶振(4)的晶振引脚(7)相配合的开孔。
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