[发明专利]一种检错/纠错校验模块的检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201010237765.9 申请日: 2010-07-23
公开(公告)号: CN102339648A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 舒清明;胡洪;苏如伟 申请(专利权)人: 北京兆易创新科技有限公司
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 栗若木;王漪
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种ECC校验模块的检测方法及装置,以解决对ECC校验模块进行硬件缺陷检测的技术问题,ECC校验模块包括锁存器以及校验电路,该检测装置包括:输入端口(300),用于接收外部输入的校验码字,将校验码字的数据组写入到锁存器中;校验码字还包含原始校验位;选择输入电路(310),用于将校验电路对校验码字的数据组进行实时校验所生成的新生校验位进行存储;比较电路(320),用于将存储的新生校验位与原始校验位进行比较,获得比较结果。与现有技术相比,本发明技术方案通过特定的ECC码字来检测出校验电路是否存在硬件缺陷。
搜索关键词: 一种 检错 纠错 校验 模块 检测 方法 装置
【主权项】:
一种检错/纠错校验模块的检测装置,其特征在于,所述检错/纠错(ECC)校验模块包括锁存器以及校验电路;所述锁存器用于存储ECC码字的数据组;所述校验电路用于对所述数据组进行实时校验,生成校验位;所述检测装置包括输入端口(300)、选择输入电路(310)以及比较电路(320),其中:所述输入端口(300),用于接收外部输入的校验码字,将所述校验码字的数据组写入到所述锁存器中;所述校验码字还包含原始校验位;所述选择输入电路(310),用于将所述校验电路对所述校验码字的数据组进行实时校验所生成的新生校验位进行存储;所述比较电路(320),用于将存储的所述新生校验位与所述原始校验位进行比较,获得比较结果。
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