[发明专利]SiC砂子检测方法无效
申请号: | 201010238175.8 | 申请日: | 2010-07-28 |
公开(公告)号: | CN101975731A | 公开(公告)日: | 2011-02-16 |
发明(设计)人: | 张华 | 申请(专利权)人: | 常州天合光能有限公司 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人: | 王凌霄 |
地址: | 213031 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及硅晶切片所用辅料检测的领域,尤其是一种SiC砂子检测方法。将SiC砂子粒度划分为3个区域:小颗粒区域粒径范围为1~5.53um,可切割颗粒区域粒径范围为8.21~12.18um,大颗粒区域粒径范围为23.52~34um,规定小颗粒含量≤3.00%,可切割颗粒含量≥55%,大颗粒含量0.35%。本发明SiC砂子检测方法,对微分分布进行表征,控制了SiC砂子的质量,由砂子引起的合格率波动值由8%降低至2%。 | ||
搜索关键词: | sic 砂子 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种SiC砂子检测方法,其特征是:将SiC砂子粒度划分为3个区域:小颗粒区域粒径范围为1~5.53um,可切割颗粒区域粒径范围为8.21~12.18um,大颗粒区域粒径范围为23.52~34um,规定小颗粒含量≤3.00%,可切割颗粒含量≥55%,大颗粒含量0.35%。
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