[发明专利]系统结构、功能和性能综合测试覆盖定量分析方法

摘要

本发明公开了一种系统结构功能性能综合测试覆盖定量分析方法，包括以下几个步骤：步骤一：建立系统的结构、功能、性能参数和测试基本信息；步骤二：建立直接关联关系；步骤三：测试覆盖定量计算；步骤四：测试设计的缺陷分析；本发明通过建立系统结构、功能、性能参数、测试集合，以及结构、功能、性能参数与测试之间的各直接关联关系集合，实现测试覆盖的定量分析，得到测试的性能参数覆盖率、功能覆盖率和结构覆盖率。

主权项

系统结构、功能和性能综合测试覆盖定量分析方法，其特征在于，包括以下几个步骤：步骤一：建立系统的结构、功能、性能参数和测试基本信息；系统结构、功能、性能和测试基本信息的元组模型如下：MB＝(S，F，P，T)                                                          (1)其中，MB代表系统结构、功能、性能参数和测试基本信息模型；S代表系统的结构集合，S＝{si|i＝1～l}，si是系统结构划分中特定层次位置的第i个结构单元；si＝(sia，sin)，sia代表第i个结构单元的编号，sin代表第i个结构单元的名字，l是结构单元的数量；F表示系统的功能集合，F＝{fi|i＝1～m}，fi是系统的第i个功能项；fi＝(fia，fin)，fia代表第i个功能项的编号，fin代表第i个功能项的名字，m是功能项的数量；P表示系统的性能参数集合，P＝{pi|i＝1～q}，pi是系统的第i个性能参数；pi＝(pia，pin，piw)，pia表示第i个性能参数的编号，pin表示第i个性能参数的名字，piw表示第i个性能参数的标称值范围，q是性能参数的数量；T表示系统的测试集合，T＝{ti|i＝1～r}，ti是系统的第i个测试项；ti＝(tia，tin，tio)，tia表示第i个测试项的编号，tin表示第i个测试项的名字，tio表示第i个测试项的类型，其中，测试类型根据系统具体情况确定，r是系统测试项的数量；步骤二：建立直接关联关系；系统基本信息关联关系元组模型如下：MR＝(RS‑F，RF‑P，RS‑P，RP‑T，RF‑T)                                          (2)其中，MR代表系统基本信息关联关系模型；RS‑F代表系统的结构与功能直接关联关系集合；RS‑F＝{(s，f)i|s∈S，f∈F，i＝1～v}，v代表集合中关联关系数量；RF‑P代表系统功能与性能参数的直接关联关系集合；RF‑P＝{(f，p)i|f∈F，p∈P，i＝1～x}，x代表集合中关联关系数量；RS‑P代表系统结构与性能参数的直接关联关系集合；RS‑P＝{(s，p)i|s∈S，p∈P，i＝1～y}，y代表集合中关联关系数量；RP‑T代表系统性能参数与测试的直接关联关系集合；RP‑T＝{(p，t)i |p∈P，t∈T，i＝1～z}，z代表集合中关联关系数量；RF‑T代表系统功能与测试的直接关联关系集合；RF‑T＝{(f，t)i|f∈F，t∈T，i＝1～d}，d代表集合中关联关系数量； 步骤三：测试覆盖定量计算；具体步骤如下所示：<1>性能参数覆盖率的计算；性能覆盖率的计算公式如下：PCR＝|P′|/|P|*100％                                                      (3)式中，P表示性能参数集合，|P|表示集合P中性能参数的数量；P’表示由特定类型测试直接关联的性能参数组成的集合，|P′|表示集合P’中性能参数的数量；性能参数覆盖率的计算过程如下：a)根据系统的性能参数集合P，确定出性能参数的数量|P|；b)根据系统的性能参数与测试直接关联关系集合RP‑T，依据指定的测试类型，确定出该类型所有测试项关联的所有性能参数，得到集合P’，确定集合P’中性能参数的数量|P′|；c)根据公式(3)计算得到性能参数覆盖率；<2>功能覆盖率的计算；功能覆盖率的计算公式如下：FCR＝|F′|/|F|*100％                                                        (4)式中，F表示功能集合，|F|表示集合F中功能项的数量；F′＝F1′∪F2′，F1’表示特定类型测试通过功能与性能参数、性能参数与测试直接关联关系间接关联到的功能项集合，F2’表示特定类型测试直接关联到的功能项集合，|F′|表示集合F’中功能项的数量；功能集覆盖率的计算过程如下：(a)根据系统的功能集合F，确定出集合F中功能项的数量|F|；(b)根据系统的功能与性能参数直接关联关系直接RF‑P，性能参数与测试直接关联关系集合RP‑T，依据指定的测试类型，确定出该类型所有测试项间接关联的所有功能项，得到集合F1’；(c)根据系统的功能与测试直接关联关系集合RF‑T，依据指定的测试类型，确定出该类型所有测试项直接关联的所有功能项，得到集合F2’；(d)将集合F1’和集合F2’合并，得到集合F’，确定出|F′|；(e)根据公式(4)计算得到功能覆盖率；<3>结构覆盖率的计算；结构覆盖率的计算公式如下：SCR＝|S′|/|S|*100％                                                (5) 式中，S表示系统的结构集合，|S|表示集合S中结构单元的数量；S′＝S1′∪S2′∪S3′，S1’表示特定类型测试通过结构与性能参数、性能参数与测试直接关联关系间接关联到的结构单元集合，S2’表示特定类型测试通过结构与功能、功能与测试直接关联关系间接关联到的结构单元集合，S3’表示特定类型通过结构与功能、功能与性能参数、性能参数与测试直接关联关系间接关联到的结构单元集合；|S′|表示集合S’中结构单元的数量；结构覆盖率的计算过程如下：a＞根据系统的结构集合S，确定出集合S结构单元的数量|S|；b＞根据系统的结构与性能参数直接关联关系集合RS‑P，性能参数与测试直接关联关系集合RP‑T，依据指定的测试类型，确定出该类型所有测试项间接关联的所有结构单元，得到集合S1’；c＞根据系统的结构与功能直接关联关系集合RS‑F，功能测试直接关联关系集合RF‑T，依据指定的测试类型，确定出该类型所有测试项间接关联的所有结构单元，得到集合S2’；d＞根据系统的结构与功能直接关联关系集合RS‑F，功能与性能参数直接关联关系集合RF‑P，性能参数与测试直接关联关系集合RP‑T，依据指定的测试类型，确定出该类型所有测试项间接关联的所有结构单元，得到集合S3’；e＞将集合S1’、集合S2’和集合S3’合并，得到集合S’，确定集合S’中结构单元的数量|S′|；f＞根据公式(5)计算得到结构覆盖率；步骤四：测试设计的缺陷分析；具体分析过程如下：①若性能参数覆盖率没有达到100％，则根据P‑P’，得到测试没有覆盖的性能参数集合，集合中的性能参数即是该类测试的设计缺陷；②若功能覆盖率没有达到100％，则根据F‑F’，得到测试没有覆盖的功能项集合，集合中的功能项即是该类测试的设计缺陷；③若结构覆盖率没有达到100％，则根据S‑S’，得到测试没有覆盖的结构单元集合，集合中的结构单元即是该类测试的设计缺陷。