[发明专利]一种基于LFSR的外部存储接口的随机测试装置有效
| 申请号： | 201010238663.9 | 申请日： | 2010-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN101894591A | 公开（公告）日： | 2010-11-24 |
| 发明（设计）人： | 李兆麟;陈佳佳;叶剑飞;魏炽频;郑庆伟;李圣龙;王芳 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100084 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种基于LFSR的外部存储接口的随机测试装置包括：伪随机数生成模块，用于生成伪随机数；伪随机数寄存模块，用于存储伪随机数；测试激励产生及输出模块，用于根据伪随机数，生成随机测试激励信号；测试模块，用于将读数据信号与对外部存储器同一地址写入的数据进行对比，统计失败的总次数。本发明的随机测试装置基于LFSR的外部存储接口的随机测试装置，以LFSR为伪随机数生成器，将其产生的伪随机数转化成符合AHB总线协议的外部存储接口随机测试激励，实现了对外部存储接口的随机测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 lfsr 外部 存储 接口 随机 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种基于LFSR的外部存储接口的随机测试装置，其特征在于，包括：伪随机数生成模块，用于生成伪随机数；伪随机数寄存模块，用于存储来自所述伪随机数生成器的伪随机数；测试激励产生及输出模块，用于根据来自所述伪随机数寄存模块的伪随机数，生成对所述外部存储接口的随机测试激励信号；和测试模块，用于将来自所述外部存储接口的读数据信号与来自所述测试激励产生及输出模块的对外部存储器同一地址写入的数据进行对比，当上述两个数据相等时，表示对外部存储器的写和读操作均已正确进行，测试通过，否则表示对外部存储器的写和读操作至少一个出错，测试失败，统计失败的总次数。
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