[发明专利]一种用于波束成形校准和能力测试的方法和装置有效
| 申请号： | 201010239192.3 | 申请日： | 2010-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN102340786A | 公开（公告）日： | 2012-02-01 |
| 发明（设计）人： | 陈侃浩 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04W16/28 | 分类号： | H04W16/28;H04W24/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 解婷婷;龙洪 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种用于波束成形校准和能力测试的方法和装置，所述校准装置包括：初始接收相位寄存模块及初始发射相位寄存模块；所述校准方法包括：基站上的各天线在接收到由该基站发出的接收回路校准信号后，由该基站分别对各天线收到的校准信号进行相位解析，并将解析出的各天线的初始接收相位保存起来；该基站依次向其上各天线对应的发射机发送发射回路校准信号，由发射机通过对应的天线将校准信号发出，该基站依次接收这些信号并分别对各信号进行相位解析，并将解析出的各天线的初始发射相位保存起来。本发明所述方法和装置，以极低的成本、极简的元器件对无线通讯的波束成形进行校准和测试，节省了校准时间，提高了测试效率，保证了校准和测试的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 波束 成形 校准 能力 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于波束成形校准的方法，包括：基站上的各天线在接收到由该基站发出的接收回路校准信号后，由该基站分别对各天线收到的校准信号进行相位解析，并将解析出的各天线的初始接收相位保存起来；该基站依次向其上各天线对应的发射机发送发射回路校准信号，由发射机通过对应的天线将校准信号发出，所述基站依次接收这些信号并分别对各信号进行相位解析，并将解析出的各天线的初始发射相位保存起来。
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