[发明专利]HJ-1A卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法无效
| 申请号： | 201010241124.0 | 申请日： | 2010-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN102346070A | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | 顾行发;余涛;高海亮;李小英;巩慧;李家国;程天海;孙源 | 申请（专利权）人： | 中国科学院遥感应用研究所 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42 |
| 代理公司： | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 | 代理人： | 尹振启 |
| 地址： | 100101 北京市朝阳区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了HJ-1A卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法，具体为：1)根据大气参数，将场地平均反射率重新采样成2.5nm间隔，并计算出2.5nm间隔的表观反射率曲线；2)利用超光谱成像仪各通道中心波长对表观反射率曲线进行插值，得到超光谱成像仪各通道等效表观反射率；3)计算超光谱成像仪各通道对应的表观辐亮度；4)提取出超光谱成像仪图像各通道平均DN值；5)计算得到各通道的表观辐亮度定标系数。本发明的超光谱成像仪在轨辐射定标方法，利用大气参数，然后利用相关公式实现表观辐亮度的计算，有效避免了根据6S模型计算结果计算量大的问题。另外，在定标过程中采用线性插值方法对表观反射率曲线进行插值，提高了处理速度，简化了定标过程。 | ||
| 搜索关键词： | hj 卫星 光谱 成像 辐射 定标 方法 | ||
【主权项】：
HJ‑1A卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法，具体为：1)根据大气参数，将场地平均反射率重新采样成2.5nm间隔，并计算出2.5nm间隔的表观反射率曲线；2)利用超光谱成像仪各通道中心波长对表观反射率曲线进行插值，得到超光谱成像仪各通道等效表观反射率；3)根据各通道的相对光谱响应函数，计算超光谱成像仪各通道对应的表观辐亮度；4)根据场地位置，提取出超光谱成像仪图像各通道平均DN值；5)根据各通道平均DN值和各通道的表观辐亮度，计算得到各通道的表观辐亮度定标系数。
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