[发明专利]硬盘测试方法无效

专利信息
申请号: 201010241220.5 申请日: 2010-07-27
公开(公告)号: CN102346699A 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 褚海佳;刘重洲 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 曾红
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种硬盘测试方法,可用于检测硬盘在使用中是否丢失,包括:开机并搜索第一硬盘是否为系统盘;当第一硬盘为系统盘时,记录并累计第一硬盘的开机次数,写入第一开机次数累计文件,储存于第一硬盘;判断第二硬盘是否开机,当第二硬盘丢失时,判断第三硬盘以及第四硬盘开机时,将第三硬盘的开机设定为第二硬盘的开机,并写入第二开机次数记录文件,储存于第三硬盘中;及将第四硬盘的开机设定为第三硬盘的开机,并写入第三开机次数记录文件,储存于第四硬盘中。本发明的硬盘测试方法,可根据所写入的开机次数累计文件以及开机次数记录文件及时发现硬盘掉电丢失的情形,方便简单,且无需增加额外的硬件设计,有效节省硬件测试的成本。
搜索关键词: 硬盘 测试 方法
【主权项】:
一种硬盘测试方法,用于测试硬盘驱动器是否有掉电丢失的情形,其特征在于,所述硬盘测试方法包括以下步骤:开机并判断第一硬盘是否为系统盘;当第一硬盘开机并为系统盘时,记录所述第一硬盘的此次开机;累计所述第一硬盘的开机次数,写入第一开机次数累计文件,储存于所述第一硬盘;判断第二硬盘、第三硬盘及第四硬盘是否开机,当所述第二硬盘未开机,所述第三硬盘开机时,记录所述第三硬盘的此次开机,并将所述第三硬盘的此次开机设定为第二硬盘的开机,并写入第二开机次数记录文件,储存于第三硬盘中;及当所述第二硬盘未开机,所述第四硬盘开机时,记录所述第四盘的此次开机,并将所述第四硬盘的此次开机设定为所述第三硬盘的开机,并写入第三开机次数记录文件,储存于第四硬盘中。
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