[发明专利]封装结构及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201010243827.7 申请日: 2010-08-02
公开(公告)号: CN102344109A 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 庄庆鸿 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81C1/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邱军
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种封装结构及其制造方法。该封装结构包括第一基板、密封胶、第二基板及补胶。第一基板具有表面。表面具有有源区及接合区。第一基板在有源区内具有元件,且在接合区内具有接垫。接垫电性连接至元件。密封胶配置于表面且围绕有源区。密封胶在有源区的边缘上具有缺口。第二基板经由密封胶与第一基板相对接合。第二基板具有第一开孔以及第二开孔。第一开孔对应于接垫。第二开孔对应于缺口。补胶位于第二开孔内并填补缺口,使第一基板、第二基板、密封胶以及补胶共同形成容置元件的密封空间。
搜索关键词: 封装 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种封装结构,包括:第一基板,具有表面,其中该表面具有有源区及位于该有源区之外的接合区,该第一基板在该有源区内具有元件,且在该接合区内具有接垫,该接垫电性连接至该元件;密封胶,配置于该表面且围绕该有源区,其中该密封胶在该有源区的边缘上具有缺口;第二基板,经由该密封胶与该第一基板相对接合,其中该第二基板具有第一开孔以及第二开孔,该第一开孔对应于该接垫,以供外界的其他元件经由该第一开孔连接至该接垫,而该第二开孔对应于该缺口;以及补胶,位于该第二开孔内并填补该缺口,使该第一基板、该第二基板、该密封胶以及该补胶共同形成容置该元件的密封空间。
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